AvaMAS多角度光谱测量系统

产品简介：

AvaMAS多角度光谱测量系统，波长范围可选择350-1100nm或1000-2500nm。可用于不同照明角度和不同探测角度的透反射光谱测量以及辐照度光谱测量。测试角度范围：-87°~87°（样品平面法线方向为0°）。

配合AvaMA自动化测量软件，可实现连续角度自动光谱测量及数据保存，无需手动切换。如需颜色测量、膜厚计算等附加功能，可按照功能需求进行匹配定制。

原理说明：

反射率测量：使用反射光路，测试参考光谱强度与反射光谱强度，计算得到相对反射率数据。

需根据待测样品表面的不同反射类型，配合特定参考板（镜反射参考板RS-2，漫反射参考板WS-2）。

透过率测量：使用透射光路，测试参考光谱强度与透射光谱强度，计算得到相对透射率数据。

辐照度测量：光谱仪经辐照度校准，可测量不同角度下的辐射源辐射强度。

自动化测量软件：

（1）实现全自动多角度透反射率光谱测量、全自动多角度辐照度测量，配备激光测距仪精准定位。（重复精度200μm）

（2）测量速度快，单幅光谱测试时间可小于1s。

（3）软件界面简洁易操作，可自动保存数据，多维光谱图显示。

· 测量模式设置：

·多维光谱-3d模式：

·软件测量界面：

典型应用领域：

AvaMAS多角度光谱测量系统，可以对常见的被测样品进行多角度光谱特性测试，例如手机面板、交通反光板、透镜滤光片等。